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Fuente: ZEISS
No te pierdas nuestro Webinar Webinar CT: Reducción artefactos con ZEISS scatterControl y ZEISS INSPECT X-Ray
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¡ZEISS sigue desarrollando avances en tomografía!
La evolución constante de la industria hace que la inspección y medición de piezas de forma no destructiva se convierta en una necesidad fundamental. Estos análisis presentan dificultades cuando se trata de piezas de múltiples materiales o de espesores elevados.
Con la intención de acompañar a estas necesidades, ZEISS ha desarrollado herramientas avanzadas que garantizan una calidad de imagen excepcional y reducen artefactos en diversas aplicaciones.
Gracias al nuevo componente ZEISS scatterControl y a los avanzados algoritmos del software ZEISS Inspect X-ray, mejorarás drásticamente tus procesos de inspección y medición.
¿Qué puedes esperar? |
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- Se explicarán en detalle los últimos desarrollos de ZEISS para mejorar la calidad de imagen
- Se mostrará el efecto de estas funcionalidades en diferentes casos reales.
- Se tratarán cuestiones sugeridas por el público asistente
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