Carl Zeiss, compaĄía especializada en el desarrollo y producción de Sistemas ?pticos y de Medición para su aplicación en los más variados entornos en los ámbitos de la medicina, la ciencia, la tecnología y la industria, será uno de los protagonistas de la 24ž Bienal EspaĄola de la Máquina de Herramienta, que se celebrará del 6 al 11 de marzo en las instalaciones de BEC (Bilbao Exhibition Centre), en Barakaldo, próximas a Bilbao. Contará con un expositor propio situado en el pabellón 2 stand H/43.

Durante la BIEMH 2006, Carl Zeiss aprovechará para presentar su nueva máquina de medición por coordenadas CONTURA G2 (CMM). Durante los seis días de la feria, los visitantes que lo deseen podrán asistir en el stand de ZEISS a demostraciones para conocer en detalle las numerosas mejoras que incorpora este equipo. El CMM incorpora Active Scanning y ofrece una mayor flexibilidad y mejor exactitud, entre otras ventajas.

En concreto, CONTURA G2 estará disponible en dos configuraciones: CONTURA G2 RDS y CONTURA G2 AKTIV. Esto permite que los clientes puedan elegir el sensor que mejor se adapta a su aplicación sin tener que sacrificar exactitud. En este sentido, el CONTURA G2 RDS está diseĄado para medir complejos atributos con múltiples ángulos que requieren agujas muy pequeĄas. De esta forma, el recipiente de prueba de articulación de ZEISS RDS puede alcanzar 20.376 posiciones en incrementos del 2,5ž.

Por su parte, el CONTURA G2 AKTIV es adecuado para medir atributos profundos o zonas de tolerancia proyectadas sobre distancias largas, sondeos de autocentrado y altas necesidades de rendimiento. El Active Scanning de ZEISS con VAST XT permite realizar mediciones desde múltiples puntos de tamaĄo, forma y posición

Para mas información visitar: www.zeiss.es